Monzón Somazzi, Carlos Martín

PRODUCCION CIENTÍFICO TECNOLÓGICA

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Artículo Ellipsometric thickness as a probe for temperature-driven nanocrystallinity evolution in MoS2 films grown from Mo seed layers

Monzón Somazzi, Carlos Martín ; Navarro Gamarra, Karen Eugenia ; de Paoli, Juan Martin ; Patrito, Eduardo Martin (Pergamon-Elsevier Science Ltd, 2025-11)

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